闪存智能测试高低温平台

闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供宽温测试环境，并行测试闪存颗粒种类多可达25种，并行测试闪存颗粒数量多可达200 颗。

闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。